拯救NAND/eMMC：延长闪存寿命
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在NAND闪存中，P/E Cycle也称为擦除次数，是判断NAND闪存寿命的关键参数。随着P/E Cycle的增加，浮栅与沟道之间的氧化层被磨损的越来越严重，导致浮栅中电子的控制越来越艰难，最终结果就是：NAND的寿命走到了尽头。每颗NAND闪存，在出厂的那一刻，寿命就固定了。
对于特定的Linux系统，文件系统开销可看成一个常数，暂时不考虑。根据公式不难看出，预期使用寿命与分区容量大小、可擦写次数正相关，与写入放大、每天写入的次数以及每次写入的数据量成负相关。在产品设计方案选型阶段，容量、可擦写次数是一个正相关变量，但对于特定的一个产品，闪存一旦选定，可擦写次数也就定了，如果有条件扩大分区容量，也是能改善使用寿命的，但改善非常有限。要想比较有效的提高闪存寿命，必须从分母的写入放大、每天写入的次数以及每次写入的数据量上面来优化。
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