失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用，在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。金鉴实验室提供电子元器件失效分析的检测服务，金鉴实验室拥有专业LED质量工程师团队及高精度电子元器件检测设备，具有精湛的技术与经验。经过长时间的严格执行，现已得到行业内各厂家一致认可。

电子信息技术在日新月异地变化，以平板电脑（LCD和PDP）、笔记本电脑、数码相机为主的消费电子产品，更新换代的速度也越来越快。电子产品的正常运行，其中少不了一个小元件的作用——电容器。

在PCB电性能测试中，测试方法多种多样，而电容测试法是一种很重要的手段。文章从电容的基本原理入手，引入电容测试法在PCB电性能测试中的应用。通过与普通的开短路测试法进行对比，找出电容测试法的优势，并以实际案例进行分析，体现出电容测试法在PCB电性能测试中的重要作用。​

根据书本上的定义，两个相互靠近的导体，中间夹一层不导电的绝缘介质，就构成了一个电容。当两个极板之间加上电压时，电容就回储存电荷。

普通压电无源石英晶体是一种无极性元件，晶体内部本身只有经过加工的单一石英晶片，英文单词叫做（Quartz crystal）需要借助设计的电路才能产生振荡信号，单晶振本身是无非发生振荡的，插件的一般常规都是二个脚，当然也会有三个脚的，中间那个脚一般用来接地，当然随着科技的发展，后来有了四个脚的普通贴片谐振器，四个脚其实只要二个脚才是真正通电工作的，剩余两个脚一个是悬空，一个是可以用来接地（可接可不接）。

二极管的结电容分两种：势垒电容和扩散电容。而一般数据手册给到的结电容参数，通常指的是势垒电容。

USB PD 3.0和Type-C连接器的普及使用，有望使过去各行其是的电子细分市场的电源适配器实现标准化。旅行者需要为笔记本电脑和手机携带单独的适配器的日子已经一去不复返了。非原厂适配器制造商正集中精力应对这一新的市场机会，力争占据一席之地。对于更高功率密度的高效、高性价比解决方案的需求从未如此强烈。​

除了电涌现象之外，高额的电压还会造成电容自身温度升高，从而产生大量的热量，这种现象一般统称为热冲击。大量的电荷涌出会造成产品被击穿的现象，而热量冲击很可能直接导致温度过高，破坏贴片电容的耐温阈值，更有甚者会造成产品破裂而无法使用的状况。现在就给大家简单科普一下这种意外的来源和处理措施。